varrimento, MicroscopeAdvantages e Desvantagens da utilização de Componentes de Imagens e Aplicações
Um Microscópio eletrônico de Varredura (SEM) é uma poderosa ferramenta de ampliação que utiliza focado feixes de elétrons para obter informações.,
alta resolução, imagens tridimensionais produzidos por SEMs fornecer topográficas, morfológicas e de composição de informações torna inestimável em uma variedade de ciência e indústria de aplicativos.
Para a direita é uma imagem de
um grão de pólen visualizada em um SEM.,
SEM Propriedades
O Microscópio eletrônico de Varredura desenvolvido pelo professor Dr. Charles Oatlev com a ajuda de estudantes de pós-graduação na década de 1950, são um dos três tipos de microscópios de elétrons (EM).
microscópios eletrônicos utilizam os mesmos princípios básicos que microscópios de luz, mas feixes de elétrons energéticos em vez de fótons, para ampliar um objeto.,0eea5d21d7″>Computador
além disso, SEMs requerem uma fonte de alimentação estável, vácuo e sistema de refrigeração, livre de vibração, espaço e precisam ser alojados em uma área que isola o instrumento do ambiente magnéticos e campos elétricos.,
sem Imaging
um microscópio electrónico de varrimento fornece informação detalhada sobre a superfície, traçando uma amostra num padrão rasterizado com um feixe de electrões.
o processo começa com um canhão de elétrons gerando um feixe de elétrons energéticos pela coluna e em uma série de lentes eletromagnéticas.
Estas lentes são tubos, enrolados em bobina e referidos como solenóides.,
as bobinas são ajustadas para focar o feixe de elétrons incidente na amostra; estes ajustes causam flutuações na tensão, aumentando/diminuindo a velocidade em que os elétrons entram em contato com a superfície da amostra.
Controlled via computer, the SEM operator can adjust the beam to control magnification as well as determine the surface area to be scanned.
o feixe é focado no palco, onde uma amostra sólida é colocada., A maioria das amostras requerem alguma preparação antes de serem colocadas na câmara de vácuo.
da variedade de diferentes processos de preparação, os dois mais comumente utilizados antes da análise SEM são o revestimento de sputter para amostras não condutivas e a desidratação da maioria dos espécimes biológicos.
além disso, todas as amostras precisam ser capazes de lidar com a baixa pressão dentro da câmara de vácuo.,
a interação entre os elétrons incidentes e a superfície da amostra é determinada pela taxa de aceleração dos elétrons incidentes, que transportam quantidades significativas de energia cinética antes de focada na amostra.
When the incident electrons come in contact with the sample, energetic electrons are released from the surface of the sample. Os padrões de dispersão feitos pela interação rendem informações sobre o tamanho, forma, textura e composição da amostra.,
uma variedade de detectores são usados para atrair diferentes tipos de elétrons dispersos, incluindo elétrons secundários e salpicados, bem como raios-X.
os electrões de retrospecção são electrões incidentais reflectidos para trás; as imagens fornecem dados de composição relacionados com a detecção de elementos e compostos. Embora a informação topográfica possa ser obtida usando um detector de retroescavadora, não é tão precisa quanto um SED.,
os elétrons de retroscatação Difractada determinam estruturas cristalinas, bem como a orientação de minerais e micro-tecidos.
raios-X, emitidos a partir da superfície da amostra, podem fornecer elementos e informações minerais.
SEM produz imagens tridimensionais a preto e branco.,
ampliação da Imagem pode ser de até 10 nanômetros e, apesar de não ser tão poderoso como o seu TEM contrapartida, as intensas interações que ocorrem na superfície da amostra fornecer uma maior profundidade de ver, de maior resolução e, em última análise, uma descrição mais detalhada da superfície da imagem.
sem aplicações
os sistemas têm uma variedade de aplicações em vários campos científicos e relacionados com a indústria, especialmente onde as caracterizações de materiais sólidos são benéficas.,
In addition to topographical, morphological and compositional information, a Scanning Electron Microscope can detect and analyze surface fractures, provide information in microstructures, examine surface contaminations, reveal spatial variations in chemical compositions, provide qualitative chemical analyses and identify crystalline structures.,
Osems podem ser uma ferramenta de pesquisa essencial em campos como ciência da vida, biologia, gemologia, ciência médica e forense, metalurgia.
além disso, os sistemas têm aplicações práticas industriais e tecnológicas, tais como a inspeção de semicondutores, linha de produção de produtos minúsculos e montagem de microchips para computadores.,as vantagens de um microscópio eletrônico de varredura incluem sua ampla gama de aplicações, a imagem tridimensional detalhada e topográfica e a informação versátil obtida de diferentes detectores.
os sistemas também são fáceis de operar com a formação adequada e os avanços na tecnologia de computadores e software associado tornam a operação fácil de usar.
this instrument works fast, often completing SEI, BSE and EDS analyses in less than five minutes., Além disso, os avanços tecnológicos nos sistemas modernos permitem a geração de dados em forma digital.
embora todas as amostras tenham de ser preparadas antes de serem colocadas na câmara de vácuo, a maioria das amostras SEM necessitam de acções de preparação mínimas.
SEM Desvantagens
As desvantagens de um Microscópio eletrônico de Varredura iniciar com o tamanho e o custo.,
os sistemas são caros, grandes e devem ser alojados numa área livre de qualquer possível interferência Eléctrica, magnética ou Vibratória.
a manutenção envolve manter uma tensão constante, correntes para bobinas eletromagnéticas e circulação de água fria.
formação especial é necessária para operar uma SEM, bem como preparar amostras.
a preparação de amostras pode resultar em artefatos., O impacto negativo pode ser minimizado com pesquisadores de experiência conhecedores sendo capazes de identificar artefatos a partir de dados reais, bem como habilidade de preparação. Não há nenhuma maneira absoluta de eliminar ou identificar todos os artefatos potenciais.
In addition, ses are limited to solid, inorganic samples small enough to FITT inside the vacuum chamber that can handle moderate vacuum pressure.
finalmente, os sistemas apresentam um pequeno risco de exposição à radiação associado aos elétrons que se espalham abaixo da superfície da amostra.,
a câmara de amostra foi projetada para evitar qualquer interferência elétrica e magnética, o que deve eliminar a chance de radiação escapar da Câmara. Mesmo que o risco seja mínimo, os operadores SEM e pesquisadores são aconselhados a observar as precauções de segurança.
o microscópio eletrônico de varredura de Hitachi
Hitachi High-Technologies, formado em 2001, fabrica uma variedade de produtos relacionados com ciência e Tecnologia.,
alguns produtos Hitachi incluem espectrofotómetros, uma variedade de analisadores, equipamentos de inspeção, dispositivos eletrônicos e produtos semicondutores, bem como uma linha de microscópios.,div>
Um Microscópio eletrônico de Varredura fornece dados de superfície de amostras sólidas.,
SEMs tomar incidentais elétrons e concentrá-los em uma amostra; os elétrons que de dispersão para fora da superfície seguir esta interação pode ser analisada com uma variedade de detectores que fornecem topográficas, morfológicas e de composição de informações sobre a superfície de uma amostra.
embora os sistemas sejam grandes e caros peças de equipamento, continuam a ser populares entre os investigadores devido à sua vasta gama de aplicações e capacidades, incluindo as imagens tridimensionais e detalhadas de alta resolução que produzem.,
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